TY  - JOUR

T1  - Avalanche noise measurement in thin Si p(+)-i-n(+) diodes

JO  - APPL PHYS LETT

PY  - 2000/06/26

AU  - Tan CH

AU  - Clark JC

AU  - David JPR

AU  - Rees GJ

AU  - Plimmer SA

AU  - Tozer RC

AU  - Herbert DC

AU  - Robbins DJ

AU  - Leong WY

AU  - Newey J

ED  - 

VL  - 76

IS  - 26

SP  - 3926

EP  - 3928

Y2  - 2024/12/22

ER  -