TY  - JOUR

T1  - Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope

JO  - Semiconductor Science and Technology

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/157595/

PY  - 2020/02/12

AU  - Trager-Cowan C

AU  - Alasmari A

AU  - Avis W

AU  - Bruckbauer J

AU  - Edwards PR

AU  - Ferenczi G

AU  - Hourahine B

AU  - Kotzai A

AU  - Kraeusel S

AU  - Kusch G

AU  - Martin RW et al

ED  - 

DO  - DOI: 10.1088/1361-6641/ab75a5

PB  - IOP Publishing

Y2  - 2024/12/22

ER  -