TY  - JOUR

T1  - Data BER Analysis of OAM-Assisted Physical Layer Authentication System

JO  - IEICE ELECTRONICS EXPRESS

PY  - 2022/01/01

AU  - Hu T

AU  - Zhang B

AU  - Zhao K

AU  - Wang Y

AU  - Zhang J

ED  - 

DO  - DOI: 10.1587/elex.9.220434

Y2  - 2024/12/22

ER  -