TY  - JOUR

T1  - EHIR: Energy-based hierarchical iterative image registration for accurate PCB defect detection

JO  - Pattern Recognition Letters

UR  - http://dx.doi.org/10.1016/j.patrec.2024.06.027

PY  - 2024/06/01

AU  - Deng S

AU  - Meng X

AU  - Deng L

AU  - Chen B

AU  - Chen Z

AU  - Hu H

AU  - Xie Y

AU  - Yin H

AU  - Yu S

AU  - Sun T

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/j.patrec.2024.06.027

PB  - Elsevier BV

Y2  - 2025/01/03

ER  -