TY - JOUR T1 - High-resolution transmission electron microscopy on silicon carbide whiskers JO - Interface Science PY - 1993/01/01 AU - Benaissa M AU - Werckmann J AU - Ehret G AU - Guille J AU - Peschiera E ED - DO - DOI: 10.1007/BF00203598 VL - 1 IS - 2 SP - 91 EP - 98 Y2 - 2024/12/22 ER -