TY  - JOUR

T1  - Monte Carlo simulation of impact ionisation in MESFETs

JO  - Electronics Letters

PY  - 1997/01/01

AU  - Dunn GM

AU  - Rees GJ

AU  - David JPR

ED  - 

DO  - DOI: 10.1049/el:19970424

VL  - 33

IS  - 7

SP  - 639

EP  - 640

Y2  - 2024/12/22

ER  -