TY  - CONF

T1  - Defect generation in high In and N content GaInNAs quantum wells: unfaulting of Frank dislocation loops

JO  - Microscopy of Semiconducting Materials

PY  - 2005/01/01

AU  - Herrera M

AU  - Gonzalez D

AU  - Lozano JG

AU  - Hopkinson M

AU  - Gutierrez M

AU  - Navaretti P

AU  - Liu HY

AU  - Garcia R

ED  - 

VL  - 107

SP  - 139

EP  - 142

Y2  - 2024/12/22

ER  -