TY  - JOUR

T1  - Observation of ultrahigh quality factor in a semiconductor microcavity

JO  - Applied Physics Letters

PY  - 2005/05/09

AU  - Sanvitto D

AU  - Daraei A

AU  - Tahraoui A

AU  - Hopkinson M

AU  - Fry PW

AU  - Whittaker DM

AU  - Skolnick MS

ED  - 

DO  - DOI: 10.1063/1.1925774

PB  - AIP Publishing

VL  - 86

IS  - 19

SP  - 191109

EP  - 191109

Y2  - 2024/12/22

ER  -