TY  - CONF

T1  - Auger depth profile analysis and EFTEM analysis of annealed Ti/Al-contacts on Si-doped GaN

CY  - Rijnsburg

PY  - 2000/01/01

AU  - Pidun M

AU  - Karduck P

AU  - Mayer J

AU  - Heime K

AU  - Schineller B

AU  - Walther T

ED  - Koerten HK

PB  - Press Point

SP  - 172

EP  - 173

Y2  - 2024/12/22

ER  -