TY  - CONF

T1  - Composition profiling at the atomic scale in III–V nanostructures by cross-sectional STM

JO  - Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures

PY  - 2003/04/01

AU  - Koenraad PM

AU  - Bruls DM

AU  - Davies JH

AU  - Gill SPA

AU  - Long F

AU  - Hopkinson M

AU  - Skolnick M

AU  - Wolter JH

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/s1386-9477(02)00860-3

PB  - Elsevier BV

VL  - 17

SP  - 526

EP  - 532

Y2  - 2024/12/22

ER  -