TY  - CONF

T1  - Avalanche multiplication and noise in sub-micron Si p-i-n diodes

JO  - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

PY  - 2000/01/01

AU  - Tan CH

AU  - David JPR

AU  - Clark J

AU  - Rees GJ

AU  - Plimmer SA

AU  - Robbins DJ

AU  - Herbert DC

AU  - Carline RT

AU  - Leong WY

ED  - 

VL  - 3953

SP  - 95

EP  - 102

Y2  - 2024/12/22

ER  -