TY  - JOUR

T1  - Imaging basal plane stacking faults and dislocations in (11-22) GaN using electron channelling contrast imaging

JO  - Journal of Applied Physics

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/159178/

PY  - 2018/08/14

AU  - Naresh-Kumar G

AU  - Thomson D

AU  - Zhang Y

AU  - Bai J

AU  - Jiu L

AU  - Yu X

AU  - Gong YP

AU  - Smith RM

AU  - Wang T

AU  - Trager-Cowan C

ED  - 

DO  - DOI: 10.1063/1.5042515

PB  - AIP Publishing

VL  - 124

IS  - 6

Y2  - 2024/12/22

ER  -