TY  - JOUR

T1  - Auger depth profile analysis and EFTEM analysis of annealed Ti/Al-contacts on Si-doped GaN

JO  - Applied Surface Science

PY  - 2001/01/01

AU  - Pidun M

AU  - Karduck P

AU  - Mayer J

AU  - Heime K

AU  - Schineller B

AU  - Walther T

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/S0169-4332(01)00282-3

VL  - 179

IS  - 1-4

SP  - 213

EP  - 221

Y2  - 2024/12/22

ER  -