TY  - CONF

T1  - Structural defects characterisation of GaInNAs MQWs by TEM and PL

JO  - IEE PROCEEDINGS-OPTOELECTRONICS

PY  - 2004/10/01

AU  - Herrera M

AU  - Gonzalez D

AU  - Garcia R

AU  - Hopkinson M

AU  - Navaretti P

AU  - Gutierrez M

AU  - Liu HY

ED  - 

DO  - DOI: 10.1049/ip-opt:20040870

VL  - 151

IS  - 5

SP  - 385

EP  - 388

Y2  - 2024/12/22

ER  -