TY  - JOUR

T1  - Scanning electron microscope as a flexible tool for investigating the properties of UV-emitting nitride semiconductor thin films

JO  - Photonics Research

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/153548/

PY  - 2019/10/30

AU  - Trager-Cowan C

AU  - Alasmari A

AU  - Avis W

AU  - Bruckbauer J

AU  - Edwards PR

AU  - Hourahine B

AU  - Kraeusel S

AU  - Kusch G

AU  - Johnston R

AU  - Naresh-Kumar G

AU  - Martin RW et al

ED  - 

DO  - DOI: 10.1364/prj.7.000b73

PB  - The Optical Society

VL  - 7

IS  - 11

SP  - B73

EP  - B82

Y2  - 2024/12/22

ER  -