TY  - JOUR

T1  - Impact ionization coefficients in 4H-SiC by ultralow excess noise measurement

JO  - IEEE Transactions on Electron Devices

PY  - 2012/04/01

AU  - Green JE

AU  - Loh WS

AU  - Marshall ARJ

AU  - Ng BK

AU  - Tozer RC

AU  - David JPR

AU  - Soloviev SI

AU  - Sandvik PM

ED  - 

DO  - DOI: 10.1109/TED.2012.2185499

VL  - 59

IS  - 4

SP  - 1030

EP  - 1036

Y2  - 2024/12/22

ER  -