TY  - JOUR

T1  - Full band Monte Carlo modeling of impact ionization, avalanche multiplication, and noise in submicron GaAs p<sup>+</sup>-i-n<sup>+</sup> diodes

JO  - Journal of Applied Physics

PY  - 2000/01/01

AU  - Ong DS

AU  - Li KF

AU  - Plimmer SA

AU  - Rees GJ

AU  - David JPR

AU  - Robson PN

ED  - 

DO  - DOI: 10.1063/1.373472

VL  - 87

IS  - 11

SP  - 7885

EP  - 7891

Y2  - 2024/10/18

ER  -