TY  - CONF

T1  - X-ray characterisation of quantum well device structures

JO  - MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1995

PY  - 1995/01/01

AU  - Hart L

AU  - Roberts C

AU  - Ghisoni M

AU  - Roberts JM

AU  - Harris JJ

AU  - Parry G

AU  - Hopkinson M

ED  - Cullis AG

ED  - StatonBevan AE

VL  - 146

SP  - 393

EP  - 398

Y2  - 2024/12/22

ER  -