TY  - JOUR

T1  - Avalanche multiplication noise characteristics in thin GaAs p(+)-i-n(+) diodes

JO  - IEEE T ELECTRON DEV

PY  - 1998/10/01

AU  - Li KF

AU  - Ong DS

AU  - David JPR

AU  - Rees GJ

AU  - Tozer RC

AU  - Robson PN

AU  - Grey R

ED  - 

VL  - 45

IS  - 10

SP  - 2102

EP  - 2107

Y2  - 2024/12/22

ER  -